Авторизация | Регистрация
Авторы от А до Я Расширенный поиск

   

   
товара: 0 шт.
на сумму: 0 руб.
пн-пт с 1000 до 1800
8 (499)
973-25-13
Задать вопрос
Каталог изданий
Доставка
Оплата
Новости сайта

Представление о технике измерений и литографии на наномасштабе

Представление о технике измерений и литографии на наномасштабе

Справочник «Handbook of  Micriscopy for Nanotechnology » edited by Nan Yao, Zhong Lin Wang (Kluwer Academic Publisher).   Русский перевод книги «Справочник по микроскопии для нанотехнологии» (редакторы Нан Яо (Принстонский Университет) и Чжун Лин Ван (Технологический институт Джорджии, Атланта, Джорджия, США) сделан коллективом переводчиков под редакцией  профессора И.В. Яминского. М.: Научный мир, 2011. 712 стр. , ISBN 978-5-91522-232-7.  

Книга рассматривает современные методы микроскопии, дает представление о технике измерений и литографии на наномасштабе.

В первой части справочника рассматриваются оптическая микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, ионная микроскопия и нанопроизводство. Подробно разбирается конфокальная сканирующая оптическая микроскопия и нанотехнология, сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля в нанонауке, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопии для манипулирования и создания структур на наномасштабе; разбирается сканирующая тепловая и термоэлектрическая микроскопия; дается представление о получении изображений методом масс-спектрометрии вторичных ионов; описывается атомно-зондовая томография, фокусированный ионный пучок, как многофункциональный инструмент в нанотехнологии; дается представление об электронно-лучевой литографии.

Вторая часть книги посвящена электронной микроскопии. В ней детально рассматривается электронная микроскопия высокого разрешения, количественный электронно-зондовый микроанализ высокого пространственного разрешения наноразмерных материалов; дается характеристика нанокристаллических материалов методом дифракции обратно рассеянных электронной в растровом электронном микроскопе; характеризуется просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения и сканирующая просвечивающая электронная микроскопия; дается представление об использовании электронной микроскопии для проведения наноизмерений; характеризуется электронная нанокристаллография и томография с использованием трасмиссионного электронного микроскопа.

В заключительных частях справочника рассматривается внеосевая электронная голография, спектроскопия характеристических потерь энергии электронами с субнанометровым разрешением; приводится визуализация магнитных структур с помощью ПЭМ.

Книга «Справочник по микроскопии для нанотехнологии» предназначена для научных работников, аспирантов и студентов, чья научная деятельность связана с нанотехнологией. 

← Назад к списку новостей