Авторизация | Регистрация
Авторы от А до Я Расширенный поиск
-
-
товара: 0 шт.
на сумму: 0 руб.
пн-пт с 1000 до 1800
8 (499)
973-25-13
Задать вопрос
Доставка
Оплата
Новости сайта

Метрология. Учебник. А.А. Брюховец и др.

Метрология. Учебник. А.А. Брюховец и др. Метрология. Учебник. А.А. Брюховец и др.
Изложены основные положения теоретической, прикладной и законодательной метрологии. Рассмотрены теоретические основы и прикладные вопросы метрологии на современном этапе, исторические аспекты и положения метрологии нанотехнологий и квантовых процессов- как особого вида измерений физических величин. Представлены основные положения Федерального закона от 26 июня 2008 г. № 102-ФЗ "Об обеспечении единства измерений".
Первый раздел посвящен теоретической метрологии (метрология макрообъектов и процессов) с рассмотрением физических величин и систем единиц величин, погрешностей результатов измерений и их видов, функций распределения случайных величин и законов распределения случайных погрешностей, оценок истинного значения измеряемой физической величины.
Во втором разделе обсуждаются вопросы прикладной метрологии (измерения и их классификация, средства измерения, эталоны, рабочие средства измерений, выбор средств измерений, условия измерения и контроля, испытания, метрологическая экспертиза технической документации, метрологическое обеспечение изделий на всем их жизненном цикле, система менеджмента измерений).
В третьем и четвертом разделах излагаются основы метрологии нанотехнологий (история становления нанотехнологий, основные свойства наноструктур, принципы нанотехнологий, методы и средства измерений в нанотехнологиях и обеспечение единства измерений в нанотехнологиях) и квантовых процессов (этапы создания метрологии квантовых процессов, измерение квантовых объектов и средства измерений).
В пятом разделе освещены законодательные вопросы - правовые основы, основные законы РФ, Государственная система обеспечения единства измерения.
Подготовлено в соответствии с Государственными образовательными стандартами для преподавателей и студентов высших технических учебных заведений, а также для лиц, интересующихся вопросами измерений и метрологического обеспечения.

← Назад к списку новостей