закрыть
Предзаказ на книгу
Осталось всего: 2
1 211
р.
Купить
Инженерные основы измерений нанометровой точности
Автор: Лич Р.
ISBN: 978-5-91559-119-5
Год издания: 2012
Формат книги: 60х90/16
Кол-во страниц: 400
Издательство: Интеллект
Тип обложки: Переплёт
Вес: 600 гр.
Описание
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Близкие по теме
-
Осталось всего: 1
Автор: Дэвис Дж., Томпсон М. (ред.)
Рубрика: Физика
ISBN: 978-5-94836-292-2
Год издания: 2011
731 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Грущанский В.А.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-9502-0352-7
Год издания: 2008
351 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Зелёный П.В., Белякова Е.И.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-16-005178-9
Год издания: 2012
510 р.Купить -
Осталось всего: 2
Автор: Могилевский В.Д.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-9502-0513-2
Год издания: 2011
557 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Уайтхауз Д.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-91559-023-5
Год издания: 2009
991 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Петрухин В.В., Петрухин С.В.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-9729-0026-8
Год издания: 2010
520 р.Купить