закрыть
Предзаказ на книгу
Осталось всего: 2
1 211
р.
Купить
Инженерные основы измерений нанометровой точности
Автор: Лич Р.
ISBN: 978-5-91559-119-5
Год издания: 2012
Формат книги: 60х90/16
Кол-во страниц: 400
Издательство: Интеллект
Тип обложки: Переплёт
Вес: 600 гр.
Описание
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Близкие по теме
-
Автор: Гусев Б.В., Файвусович А.С.
Рубрика: Строительство
ISBN: 978-5-91522-378-2
Год издания: 2014
130 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Микрин Е.А., Звягин Ф.В.
Рубрика: Механика
ISBN: 978-5-7038-5276-7
Год издания: 2020
1 540 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Гусев А.С.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-7038-4010-8
Год издания: 2014
114 р.Купить -
-
Осталось всего: 2
Автор: Каблов Е.Н.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-905217-04-3
Год издания: 2013
495 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Уайтхауз Д.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-91559-023-5
Год издания: 2009
991 р.Купить