Авторизация | Регистрация
Авторы от А до Я Расширенный поиск

   

   
товара: 0 шт.
на сумму: 0 руб.
пн-пт с 1000 до 1800
8 (499)
973-25-13
Задать вопрос
Каталог изданий
Доставка
Оплата
Физика
Фундаментальные основы анализа нанопленок
В наличии 128 книг
490 р.
Купить

Фундаментальные основы анализа нанопленок

Автор: Алфорд Т.Л., Фельдман Л.К., Майер Д.В.
ISBN: 978-5-91522-225-9
Год издания: 2012
Формат книги: 70х100/16
Кол-во страниц: 392
Издательство: Научный мир
Тип обложки: Переплёт
Вес: 750 гр.

Описание

   Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе.

Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Близкие по теме книги