закрыть
закрыть
закрыть
закрыть

Авторизация | Регистрация
закрыть
Авторизация




Забыли пароль?
Интернет-магазин научной книги Интернет-магазин учебной и научной книги
Каталог книг
Партнерам
Доставка и оплата
Вопрос-ответ
Контакты
Авторы от А до Я
закрыть
Авторы от А до Я
а
б
в
г
д
е
ё
ж
з
и
й
к
л
м
н
о
п
р
с
т
у
ф
х
ц
ч
ш
щ
ъ
ы
ь
э
ю
я
Расширенный поиск
-
-
Ваша корзина
товара: 0 шт.
на сумму: 0 руб.
пн-пт с 1000 до 1800
8 (499)
973-25-13
Задать вопрос
закрыть
Задайте свой вопрос










Доставка
Оплата
отобразить с
обложками
Майер Д.В.
1 книга
Сортировать результаты по:
Название Автор Год Цена Купить
Фундаментальные основы анализа нанопленок. Лучший зарубежный учебник МГУ им. Ломоносова, научно-образовательного центра по нанотехнологиям
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
р.
Купить
Фундаментальные основы анализа нанопленок. Лучший зарубежный учебник МГУ им. Ломоносова, научно-образовательного центра по нанотехнологиям 		Алфорд Т.Л., Фельдман Л.К., Майер Д.В. 2012 Купить

Назад
1
Вперёд
  16